M. Arenz,W.-J. Baek,M. Beck,A. Beglarian,Jan D. Behrens,T. Bergmann,A. Berlev,U. Besserer,K. Blaum,T. Bode,B. Bornschein,T. Brunst,N. Buzinsky,S. Chilingaryan,W.Q. Choi,M. Deffert,P.J. Doe,O. Dragoun,G. Drexlin,S. Dyba,F. Edzards,K. Eitel,E. Ellinger,R. Engel,S. Enomoto,M. Erhard,D. Eversheim,M. Fedkevych,J.A. Formaggio,F.M. Fränkle,G.B. Franklin,F. Friedel,A. Fulst,W. Gil,F. Glück,A. Gonzalez Ureña,S. Grohmann,R. Grössle,R. Gumbsheimer,M. Hackenjos,V. Hannen,F. Harms,N. Haußmann,F. Heizmann,K. Helbing,W. Herz,S. Hickford,D. Hilk,M.A. Howe,A. Huber,A. Jansen,J. Kellerer,N. Kernert,L. Kippenbrock,M. Kleesiek,M. Klein,Andreas Kopmann,M. Korzeczek,A. Kovalík,B. Krasch,M. Kraus,L. Kuckert,T. Lasserre,Ondřej Lebeda,J. Letnev,A. Lokhov,M. Machatschek,A. Marsteller,E.L. Martin,S. Mertens,S. Mirz,B. Monreal,H. Neumann,S. Niemes,A. Off,A. Osipowicz,E. Otten,Diana Parno,A. Pollithy,A.W.P. Poon,F. Priester,P.C.-O. Ranitzsch,O. Rest,R.G. Hamish Robertson,F. Roccati,C. Rodenbeck,M. Röllig,C. Röttele,M. Ryšavý,R. Sack,A. Saenz,L. Schimpf,K. Schlösser,K. Schönung,M. Schrank,H. Seitz-Moskaliuk,J. Sentkerestiová,Valerian Sibille,M. Slezák,M Steidl,N. Steinbrink,M. Sturm,M. Suchopar,H.H. Telle,L.A. Thorne,T. Thümmler,N. Titov,I. Tkachev,N. Trost,K. Valerius,D. Vénos,R. Vianden,A.P. Vizcaya Hernández,M. Weber,Christian Weinheimer,C. Weiss,S. Welte,J. Wendel,J. F. Wilkerson,J. Wolf,S. Wüstling,S. Zadoroghny,L. Bornschein,M. Schlösser;M. Arenz;W.-J. Baek;M. Beck;A. Beglarian;Jan D. Behrens;T. Bergmann;A. Berlev;U. Besserer;K. Blaum;T. Bode;B. Bornschein;T. Brunst;N. Buzinsky;S. Chilingaryan;W.Q. Choi;M. Deffert;P.J. Doe;O. Dragoun;G. Drexlin;S. Dyba;F. Edzards;K. Eitel;E. Ellinger;R. Engel;S. Enomoto;M. Erhard;D. Eversheim;M. Fedkevych;J.A. Formaggio;F.M. Fränkle;G.B. Franklin;F. Friedel;A. Fulst;W. Gil;F. Glück;A. Gonzalez Ureña;S. Grohmann;R. Grössle;R. Gumbsheimer;M. Hackenjos;V. Hannen;F. Harms;N. Haußmann;F. Heizmann;K. Helbing;W. Herz;S. Hickford;D. Hilk;M.A. Howe;A. Huber;A. Jansen;J. Kellerer;N. Kernert;L. Kippenbrock;M. Kleesiek;M. Klein;Andreas Kopmann;M. Korzeczek;A. Kovalík;B. Krasch;M. Kraus;L. Kuckert;T. Lasserre;Ondřej Lebeda;J. Letnev;A. Lokhov;M. Machatschek;A. Marsteller;E.L. Martin;S. Mertens;S. Mirz;B. Monreal;H. Neumann;S. Niemes;A. Off;A. Osipowicz;E. Otten;Diana Parno;A. Pollithy;A.W.P. Poon;F. Priester;P.C.-O. Ranitzsch;O. Rest;R.G. Hamish Robertson;F. Roccati;C. Rodenbeck;M. Röllig;C. Röttele;M. Ryšavý;R. Sack;A. Saenz;L. Schimpf;K. Schlösser;K. Schönung;M. Schrank;H. Seitz-Moskaliuk;J. Sentkerestiová;Valerian Sibille;M. Slezák;M Steidl;N. Steinbrink;M. Sturm;M. Suchopar;H.H. Telle;L.A. Thorne;T. Thümmler;N. Titov;I. Tkachev;N. Trost;K. Valerius;D. Vénos;R. Vianden;A.P. Vizcaya Hernández;M. Weber;Christian Weinheimer;C. Weiss;S. Welte;J. Wendel;J. F. Wilkerson;J. Wolf;S. Wüstling;S. Zadoroghny;L. Bornschein;M. Schlösser;
journal of instrumentation
2018
Vol. 13
pp. T08005-